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  • 關鍵詞搜索: ROHS檢測儀,鹵素測試儀,x射線熒光光譜儀,重金屬檢測儀,鍍層膜厚分析儀,手持合金分析儀,手持礦石分析儀,手持土壤分析儀,ROHS2.0分析儀,rohs十項檢測儀,鄰苯檢測儀,色譜儀,光譜儀

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    產品詳細頁

    X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)

    簡要描述:X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)Thick800D:是天瑞集多年的經驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

    • 產品型號:Thick800D
    • 廠商性質:生產廠家
    • 更新時間:2025-01-23
    • 訪  問  量:5681

    產品介紹

     

    X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)性能特點

    滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
    φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
    高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
    采用高度定位激光,可自動定位測試高度
    定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
    鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
    高分辨率探頭使分析結果更加精準
    良好的射線屏蔽作用
    測試口高度敏感性傳感器保護

    X熒光/X射線測厚儀(膜厚儀)技術指標

    型號:Thick 800A
    元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
    一次可同時分析zui多24個元素,五層鍍層。
    分析檢出限可達2ppm,zui薄可測試0.005μm。
    分析含量一般為2ppm99.9% 。
    鍍層厚度一般在50μm以內每種材料有所不同
    任意多個可選擇的分析和識別模型。
    相互獨立的基體效應校正模型。
    多變量非線性回收程序
    多次測量重復性可達0.1%
    長期工作穩(wěn)定性可達0.1%
    度適應范圍為1530。
    電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
    儀器尺寸:534(W) x 480 (D) x525(H) mm
    重量:80 kG

     

    標準配置:
    高低壓電源(美國Spellman進口
    大功率X光管(英國Oxford牛津進口)
    電制冷半導體探測器(美國AMPTEK進口
    多道分析器(美國進口
    控制電路
    高壓單元
    移動樣品臺
    高清晰CCD
    準直器:含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mmФ1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個
    濾光片:5組濾光片
    計算機:品牌商務電腦(內存2G、硬盤200G),17寸液晶顯示器
    打印機:彩色噴墨打印機

     

    應用范圍:

    RoHS檢測分析
    地礦與合金銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分等)成分分析
    金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定
    黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

     

     

     

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